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隨著半導體製程技術的進步,系統晶片 (SOC) 中使用的嵌入式記憶體容量與密度越來越高,而導致記憶體故障更容易發生。因此,記憶體的良率很大程度決定系統晶片的良率。單一位元故障占所有故障形態比例最高,…
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